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                            梁华国☆
                                 日期:2018-11-19

                            梁华国


                            姓名

                            梁华国

                            职称

                            教授

                            职务


                            所属系所


                            邮箱

                            huagulg@hfut.edu.cn

                            电话



                            个人简介

                            德国斯图加特大学博士,合肥工业大学教授、博士生导师;国务院特殊津贴专家,国家自然科学基金委会评专家,国家重点实验室评估专家,中国计量学会集成电路测试专业委员会副主任,安徽省跨世纪学科骨干,合肥市集成电路产业联盟、半导体行业协会副理事长,合肥工业大学留学归国人员联谊会会长。曾多次担任亚洲国际测试会议专题主席、会议主席和总主席,以及中国测试学术会议执行主席。承担国家自然科学面上和重点基金、国家973 计划、Philips半导体公司、德国国家自然科学基金(DFG)等项目。发表论文百余篇,多次获得安徽省科技进步奖、安徽省自然科学奖、安徽省教学成果奖,出版英文专著一部,多次获得欧洲国际测试会议最佳论文奖励。


                            研究方向:

                            容错计算与硬件安全、嵌入式系统综合与测试、智能控制系统


                            开设课程:

                            数字逻辑电路、超大规模集成电路测试基础


                            科研项目:

                            1. 国家自然科学基金重点项目:集成电路近似计算基础理论与设计方法(No.61834006),20191~202312月,在研,合作

                            2. 国家自然科学基金面上项目:基于TSV测试与容错的3D芯片良率提升方法研究(No.61674048),在研,主持

                            3. 电子测试技术重点实验室开放基金项目:大规模数字集成电路测试向量转换系统设计(No.614200102020717),已结题,主持

                            4. 安徽省科技攻关项目:新一代建筑电气监控系统关键技术研发(No.1501041138), 已结题,参加

                            5. 国家自然科学基金面上项目“纳米CMOS集成电路抗老化设计”(No.61371025),已结题,参加

                            6. 安徽省高校省级自然科学研究重大项目:延缓老化并容忍软错误的VLSI电路可靠性设计关键技术研究(KJ2014ZD12),已结题,主持

                            7. 天中(北京)电子科技有限公司委托:制氧供氧功能??椴馐钥⒀兄疲?/span>No. W2015JSKF0190),已结题,主持

                            8. 国家自然科学基金面上项目:基于老化特征的集成电路失效预测与防护(No.61274036),已结题,主持

                            9. 中国电子科技集团公司第三十八研究所:面向航空航天环境的星载抗辐射专用容错芯片(No. 433042/12-369),已结题,主持

                            10. 安徽省军民结合高技术产业发展专项资金计划:高可靠SoC芯片的研发及产业化(No.2012XKJH0008, 已结题,主持

                            11. 国家自然科学基金面上项目:控制器的内建自恢复与内建自测试研究(No.60876028),已结题,主持

                            12. 教育部博士点基金“自恢复控制器的综合与测试”(No.200803590006),已结题,主持

                            13. 国家自然科学基金重点项目:数字VLSI电路测试技术研究”(No.B60633060),已结题,合作

                            14. 国家973计划子项目:高效率的处理芯片设计、验证与测试研究”(No.2005CB321605),已结题,参加

                            15. 国家自然基金重大研究计划“系统芯片SoC外建自测试方法研究”(No.90407008),已结题,主持

                            16. 教育部留学回国人员科研基金:高速嵌入式系统测试研究”(No.2004.527),已结题,主持

                            17. 国家自然科学基金面上项目“系统芯片SOC中嵌入芯核的内建自测试研究”(No.60444001),已结题。主持


                            代表成果(著作、论文、专利等,限10项)

                            1. Liang Huaguo,Xu Xiumin,Huang Zhengfeng,Jiang Cuiyun,Lu Yingchun, Yan Aibin,Ni Tianming,Ouyang Yiming,Yi Maoxiang,A Methodology for Characterization of SET Propagation in SRAM-Based FPGAs, IEEETransactions on Nuclear Science, 2016, 63(6): 2985-2992.

                            2. Maoxiang Yi, Jingchang Bian, Tianming Ni, Cuiyun Jiang, Hao Chang, Huaguo Liang, A Pulse Shrinking-Based Test Solution for Prebond Through Silicon via in 3-D ICs,in IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, vol. 38, no. 4, pp. 755-766, April 2019.

                            3. Huaguo LIANG,Xiangsheng FANG,Maoxiang YI,Zhengfeng HUANG,Yingchun LU, A novel BIST scheme for circuit aging measurement of aerospace chips , Chinese Journal of Aeronautics, 2018, 31(7): 1594-1601.

                            4. Huaguo Liang, Xin Li, Zhengfeng Huang, Aibin Yan and Xiumin Xu. Highly robust double node upset resilient hardened latch design. IEICE Transactions on Electronics, 2017.5, E100-C5: 496~503.

                            5. Liang Huaguo、Xu Hui、Huang Zhengfeng、Yi Maoxiang,A low-leakage and NBTI-mitigated N-type domino logic,Journal of Semiconductors,35(1),015009,2014/1.

                            6. Luming Y.,L. Huaguo,H. Zhengfeng,L. Yanbin, A FAULT DETECTION SENSOR FOR CIRCUIT AGING USING DOUBLE-EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOP. Journal of Electronics(China),2013(01): 97-103.

                            7. Maoxiang Yi, Huaguo Liang, Lei Zhang and Wenfa Zhan, A Novel x-ploiting Strategy for Improving Performance of Test Data Compression, IEEE Transactions on Very Large Scale Integration Systems. Vol. 18, No.2, 2010 .

                            8. Huoguo Liang,A New Technique for Deterministic Scan-Based Built-In Self-Test,  SHAKER VERLAG, 2003.

                            9. Hua-Guo Liang,Hellebrand, S.,Wunderlich, H.-J. Two-dimensional test data compression for scan-based deterministic BIST. International Test Conference 2001, ITC2001, p 894-902.

                            10. Hellebrand S, Liang HG, Wundrlich HJ. A mixed mode BIST scheme based on reseeding of folding counters. Journal of Electronic Testing-Theory and Applications, v 17, 2001, p 341-349.


                            获奖荣誉:

                            1. 2020年获得安徽省教学成果奖一等奖,项目名称:知行融创、数质并举—集成电路人才培养模式创新与实践(排名第一)

                            2. 2013年获得安徽省教学成果奖一等奖,项目名称:电子科学与技术专业人才培养与教学模式创新性研究与实践(排名第一)

                            3. 国务院特殊津贴专家

                            4. 2009年度安徽省科学技术奖三等奖(证书编号:2009-3-R1),项目名称:系统芯片SOC自测试方法研究(排名第一)

                            5. 合肥工业大学教学名师

                            6. 荣获合肥工业大学首届“研究生心目中的优秀导师”称号。


                            研究室主页:http://ca.hfut.edu.cn



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